闩锁效应的读音:shuān suǒ xiào yìng
闩锁效应的拼音:shuan、suo、xiao、ying
闩锁效应的简拼:SSXY
闩锁效应的首字母:S
闩锁效应的首字拼音:shuan
分字拼音:应的拼音 效的拼音 锁的拼音 闩的拼音
闩锁效应(Latch-up)是CMOS集成电路中一个重要的问题,这种问题会导致芯片功能的混乱或者电路直接无法工作甚至烧毁。